Suchergebnisse - JARBOE, JR. JAMES MICHAEL | OPAC THWS

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Bist DDR memory interface circuit and method for testing the same von Jarboe, Jr, James Michael, Panigrahi, Sukanta Kishore, Agrawal, Vinay, Nayak, Neeraj P

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Bist DDR memory interface circuit and method for self-testing the same using phase relationship between a data signal and a data strobe signal von Jarboe, Jr, James Michael, Panigrahi, Sukanta Kishore, Agrawal, Vinay, Nayak, Neeraj P

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Method and apparatus for testing embedded memory on devices with multiple processor cores von Jarboe, Jr, James Michael, Wright, Nathan Weyer, Schutt, Nicholas Henry, Ho, Van

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Bist DDR memory interface circuit and method for testing the same von JARBOE, JR. JAMES MICHAEL, AGRAWAL VINAY, NAYAK NEERAJ P, PANIGRAHI SUKANTA KISHORE

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BIST DDR MEMORY INTERFACE CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME von JARBOE, JR. JAMES MICHAEL, AGRAWAL VINAY, NAYAK NEERAJ P, PANIGRAHI SUKANTA KISHORE

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