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At-speed Testing of Asynchronous Reset De-assertion Faults
von
Jain, A.
,
Jalasutram, M.
,
Vooka, S.
,
Nair, P.
,
Pradhan, N.
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Tagungsbericht
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CACHE SCANNING
von
JALASUTRAM, Maheedhar
,
TUMMALA, Gopi Krishna
,
WONG, Victor Kam Kin
,
GARG, Sunder
,
JAIN, Anupam
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Patent
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SELF-DIAGNOSTIC COUNTER
von
Jalasutram, Maheedhar Janaki
,
Ghotgalkar, Shailesh Ganapat
,
Viswanathan Pillai, Prasanth
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Patent
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Self-diagnostic counter
von
Jalasutram, Maheedhar Janaki
,
Ghotgalkar, Shailesh Ganapat
,
Viswanathan Pillai, Prasanth
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Patent
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5
Cache scanning
von
WONG, VICTOR KAM KIN
,
JAIN, ANUPAM
,
TUMMALA, GOPI KRISHNA
,
JALASUTRAM, MAHEEDHAR
,
GARG, SUNDER
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6
Method and apparatus for concurrent test of flash memory cores
von
PAREKHJI RUBIN AJIT
,
MEHROTRA RAJAT
,
JALASUTRAM MAHEEDHAR
,
SHRIMALI CHARU
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7
METHOD AND APPARATUS FOR CONCURRENT TEST OF FLASH MEMORY CORES
von
PAREKHJI RUBIN AJIT
,
MEHROTRA RAJAT
,
JALASUTRAM MAHEEDHAR
,
SHRIMALI CHARU
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Patent
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Electric Digital Data Processing
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Basic Electronic Circuitry
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Electricity
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Pulse Technique
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Atpg
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Automatic Test Pattern Generation
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Circuit Faults
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Clocks
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De-Assertion
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Delay Fault
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Reset Synchronizer
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Synchronization
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System-On-A-Chip
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Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Quelle
Esp@Cenet
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6
Ieee Electronic Library (Iel) Conference Proceedings
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Ieee Power & Energy Library
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Ieee Electronic Library (Iel)
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