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Transparent Al-Zn-Sn-O thin film transistors prepared at low temperature
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Characterization of erbium-silicided Schottky diode junction
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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A study of the measurement of radiative quantum efficiency using thermal time constants
Veröffentlicht in Optik (Stuttgart)
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Transparent non-volatile memory device using silicon quantum dots
Veröffentlicht in Electronic materials letters
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