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    Improving the Reliability of Biometric Authentication Processes Using a Model for Reducing Data Drift von Kuklin, Vladimir Zh, Ivanov, Naur Z., Muranov, Alexander N., Alexandrov, Islam A., Linskaya, Elena Yu

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    Multiphysics Process Simulation in the Working Area of the Plasma Unit of the Multicomponent Nanocomposite Coating Plant von Zuev, Maxim, Tatarkanov, Aslan A., Z. Ivanov, Naur, S. Mikhailov, Maxim, N. Muranov, Alexander


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