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Electronic structure of stoichiometric and oxygen-deficient ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2
Veröffentlicht in Nanotechnology
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Conduction mechanisms of TaN/HfO x /Ni memristors
Veröffentlicht in Materials research express
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Origin of traps and charge transport mechanism in hafnia
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Charge transport in amorphous Hf0.5Zr0.5O2
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Conduction mechanisms of TaN/HfOx/Ni memristors
Veröffentlicht in Materials research express
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