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    Application of self-aligned CoSi/sub 2/ interconnection in submicrometer CMOS transistors von Broadbent, E.K., Irani, R.F., Morgan, A.E., Maillot, P.


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    Electrode effects on electrical measurements on chalcogenide films

    Electrode effects on electrical measurements on chalcogenide films von Dove, D.B., Irani, R.F.

    Veröffentlicht in Thin solid films

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