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    SRAM-based heavy ion beam flux and LET dosimetry

    SRAM-based heavy ion beam flux and LET dosimetry von Coronetti, Andrea, Garcia-Alia, Ruben, Dilillo, Luigi, Imianosky, Carolina, Dos Santos, Douglas Almeida, Luza, Lucas Matana, Bosser, Alexandre, Bilko, Kacper, Waets, Andreas, Klimek, Karolina, Saigne, Frederic


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    Characterization of Single-Event Effects in a Microcontroller with an Artificial Neural Network Accelerator

    Characterization of Single-Event Effects in a Microcontroller with an Artificial Neural Network Accelerator von Imianosky, Carolina, Mattos, André M. P, Santos, Douglas A, Melo, Douglas R, Kastriotou, Maria, Cazzaniga, Carlo, Dilillo, Luigi

    Veröffentlicht in Electronics (Basel)

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