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    Development of Nanometrology for Nanoelectronics: Growth and Characterization of Transition Metal Monolayer Films on Silicon

    Development of Nanometrology for Nanoelectronics: Growth and Characterization of Transition Metal Monolayer Films on Silicon von Kitan, S.A., Krylov, S.V., Plusnin, N.I., Il'yashenko, W.M.

    Veröffentlicht in Key engineering materials

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