Structural, electronic and optical properties of AB bilayer graphene intercalated by Sr atom: A first principles study von Farkad, O., Takassa, R., Elfatouaki, F., Hassine, S., Ijdiyaou, Y., Ibnouelghazi, E.A., Abouelaoualim, D.

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XPS study of amorphous carbon nitride (a-C:N) thin films deposited by reactive RF sputtering von Ech-chamikh, E., Essafti, A., Ijdiyaou, Y., Azizan, M.

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Optical characterization of a-C:N thin films deposited by RF sputtering von Ech-chamikh, E., Essafti, A., Azizan, M., Ijdiyaou, Y.

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Controlling optical properties of small SWCNT using new N-doping chains method: A first-principles study von Takassa, R., Elfatouaki, F., Farkad, O., Hassine, S., Choukri, O., Mouncharih, A.E., Ijdiyaou, Y., Ibnouelghazi, E.A., Abouelaoualim, D.

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Déposition par pulvérisation cathodique radio fréquence et caractérisation électronique, structurale et optique de couches minces du dioxyde de titane von HAFIDI, K, AZIZAN, M, IJDIYAOU, Y, AMEZIANE, E. L

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Intercalation of Sr in AA stacked bilayer graphene : DFT study of the electronic structure and optical properties von Farkad, O., Elfatouaki, F., Takassa, R., Hassine, S., Ijdiyaou, Y., Ibnouelghazi, E.A., Abouelaoualim, D.

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First-principles investigation of the structural, electronic and optical properties of Zn2NbN3 von Hassine, Sanae, Farkad, Omar, Takassa, Rabia, Elfatouaki, Fatima, Choukri, Oumaima, Ijdiaou, Youssef, Ibnouelghazi, El Alami, Abouelaoualim, Driss

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Annealing Effects on RF Sputter Deposited a-Si/a-C Multilayers von Essafti, A., Ijdiyaou, Y., Ech-chamikh, E., Debbagh, F., Azizan, M.

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Optical Properties of Amorphous Silicon–Carbon Alloys (a-SixC1-x) Deposited by RF Co-Sputtering von El Khalfi, A., Ech-chamikh, E., Ijdiyaou, Y., Azizan, M., Essafti, A.

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Déposition par Pulvé Risation Cathodique Radio Fréquence et Caracté Risation Électronique, Structurale et Optique de Couches Minces du Dioxyde de Titane von Hafidi, K., Azizan, M., Ijdiyaou, Y., Ameziane, E. L.

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Water pumping using a photovoltaic d.c. solar pump without energy storage von Bennouna, A., Ijdiyaou, Y.

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Grazing incidence X-ray reflectometry studies of CdTe(1 1 1) surfaces and a-Si thin films von IJDIYAOU, Y, HAFIDI, K, AZIZAN, M, AMEZIANE, E. L, OUTZOURHIT, A, DREESEN, L, BENAI, K

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Interaction of oxygen with (Er + Si) : formation of erbium pyrosilicate Er2Si2O7 von HAFIDI, K, IJDIYAOU, Y, AZIZAN, M, AMEZIANE, E. L, OUTZOURHIT, A, NGUYEN TAN, T. A, BRUNEL, M

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The formation of sputtered Ta/a-Si and a-Si/Ta interfaces in a-Si/Ta/a-Si/c-Si structure von Ijdiyaou, Y., Hafidi, K., Azizan, M., Ameziane, E.L., Patrat, G., Brunel, M., Ortega, L., Tan, T.A.Nguyen

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On the formation of molybdenum silicides in MoSi multilayers: the effect of Mo thickness and annealing temperature von Ijdiyaou, Y., Azizan, M., Ameziane, E.L., Brunel, M., Nguyen Tan, T.A.

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On the formation of erbium silicide in a-Si/Er/a-Si/c-Si structures von Ijdiyaou, Y., Azizan, M., Ameziane, E.L., Brunel, M., Tan, T.A.Nguyen

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DEPOSITION PAR PULVERISATION CATHODIQUE RADIO FREQUENCE ET CARACTERISATION ELECTRONIQUE, STRUCTURALE ET OPTIQUE DE COUCHES MINCES DU DIOXYDE DE TITANE von K. Hafidi, M. Azizan, Y Ijdiyaou, E. L. Ameziane

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RADIO FREQUENCY AND ELECTRONIC, STRUCTURAL CHARACTERISATION AND OPTICS OF THIN LAYERS OF THE TITANIUM DIOXIDE von Hafidi, K, Azizan, M, Ijdiyaou, Y, Ameziane, E L

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Grazing incidence X-ray reflectometry studies of [formula omitted] surfaces and a-Si thin films von Ijdiyaou, Y, Hafidi, K, Azizan, M, Ameziane, E.L, Outzourhit, A, Dreesen, L, Benai, K

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Interaction of oxygen with (Er + Si): formation of erbium pyrosilicate Er 2Si 2O 7 von Hafidi, K., Ijdiyaou, Y., Azizan, M., Ameziane, E.L., Outzourhit, A., Nguyen Tan, T.A., Brunel, M.

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