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Effects of Glue on the Bend Performance of Flip Chip Packages
von
Meyyappan, K.
,
McAllister, A.
,
Kochanowski, M.
,
Ife Hsu
Veröffentlicht in
IEEE transactions on components and packaging technologies
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A new and effective drop test evolution to next-gen handheld applications
von
Dongji Xie
,
Ife Hsu
,
Yingliang Zhou
,
Zhang, Andy
,
Min Woo
,
Uppalapati, Ramgopal
,
Zhongming Wu
,
McMullen, Tom
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Impact of Enabling solution design on SLI reliability during Temperature Cycling using Shadow Moire
von
Meyyappan, K.
,
Geng, P.
,
Hsu, I.
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