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    The Analysis of the Defective Cells Induced by COP in a 0.3-micron-technology Node DRAM

    The Analysis of the Defective Cells Induced by COP in a 0.3-micron-technology Node DRAM von Muranaka, Masaya, Makabe, Kazuya, Miura, Masashi, Kato, Hideaki, Ide, Seihachi, Iwai, Hidetoshi, Kawamura, Masao, Tadaki, Yoshitaka, Ishihara, Masamichi, Kaeriyama, Toshiyuki


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    SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE

    SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE von NAGASHIMA YASUSHI, TAKAHASHI TSUTOMU, IDE SEIHACHI

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    SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE von SUZUKI YUKIE, ARAI KOJI, SUZUKI MICHIYO, TANAKA ATSUYA, TAKAHASHI TSUTOMU, IDE SEIHACHI

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    TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT APPARATUS von MURANAKA MASAYA, KATO HIDEAKI, NAKAI KIYOSHI, ITO YUTAKA, MAKABE KAZUYA, MIURA MASASHI, FUJII ISAMU, IDE SEIHACHI

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