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Forward Body Biasing as a Bulk-Si CMOS Technology Scaling Strategy
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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MOSFET hot-carrier reliability improvement by forward-body bias
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
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MOSFET design for forward body biasing scheme
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
VolltextArtikel -
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