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SPECIMEN HOLDER AND ANALYSIS APPARATUS HAVING THE SAME
von
HWANG, KYOUNG HWAN
,
IHN, CHAN KOOK
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2
SAMPLE HOLDER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE FABRICATION
von
IHN, CHAN KOOK
,
LIM, TAEK JIN
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3
APPARATUS AND METHOD FOR ANALYZING SURFACE OF SEMICONDUCTOR
von
IHN, CHAN KOOK
,
RYU, KWON SUN
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4
NANO CRYSTAL NONVOLATILE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND FABRICATION METHOD THEREOF
von
IHN, CHAN KOOK
,
CHO, KYOO CHUL
,
CHOI, SOO YEOL
,
PARK, YOUNG SOO
,
CHOI, SAM JONG
,
PARK, HAE JIN
,
KIM, YONG KWON
,
KIM, SANG SIG
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Patent
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5
Sample for transmission electron microscope analysis and its manufacturing method
von
LIM, CHANG-SUB
,
OK, CHANG-HYUK
,
IHN, CHAN-KOOK
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Patent
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6
Sample for transmission electron microscope analysis having no conductive material in the electron beam path, and its manufacturing method
von
OK
,
CHANG-HYUK
,
LIM
,
CHANG-SUB
,
IHN
,
CHAN-KOOK
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Patent
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Esp@Cenet
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