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Calibration of imaging plate for high energy electron spectrometer
Veröffentlicht in Review of scientific instruments
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Giant Dirac point shift of graphene phototransistors by doped silicon substrate current
Veröffentlicht in AIP advances
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Estimation of resist sensitivity for extreme ultraviolet lithography using an electron beam
Veröffentlicht in AIP advances
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Ultrathin amorphous Si layer formation by femtosecond laser pulse irradiation
Veröffentlicht in Applied physics letters
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