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Atomic-scale 3D imaging of individual dopant atoms in an oxide semiconductor
Veröffentlicht in Nature communications
VolltextArtikel -
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Characterization of ferroelectric domain walls by scanning electron microscopy
Veröffentlicht in Journal of applied physics
VolltextArtikel -
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Atomic-scale 3D imaging of individual dopant atoms in a complex oxide
Veröffentlicht in arXiv.org
VolltextArtikel -
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