A SOI-RF-CMOS technology on high resistivity SIMOX substrates for microwave applications to 5 GHz von Eggert, D., Huebler, P., Huerrich, A., Kueck, H., Budde, W., Vorwerk, M.

Volltext

PASSIVES HF-ELEMENT UND VERFAHREN ZUM BETREIBEN, ZUM HERSTELLEN UNDZUM BESTIMMEN VON CHARAKTERISTISCHEN EIGENSCHAFTEN DESSELBEN von Eggert, D, Huebler, P, Huerrich, A, Todt, U, Vorwerk, M

Volltext bestellen

Phase diagram and composition optimization for magnetic shape memory effect in Ni-Co-Mn-Sn alloys von Cong, D. Y., Roth, S., Pötschke, M., Hürrich, C., Schultz, L.

Volltext

Magnetically resettable 0.16% free strain in polycrystalline Ni–Mn–Ga plates von Pötschke, Martin, Weiss, Sandra, Gaitzsch, Uwe, Cong, Daoyong, Hürrich, Claudia, Roth, Stefan, Schultz, Ludwig

Volltext

Isothermal martensitic transformation in polycrystalline Ni sub(50)Mn sub(29)Ga sub(21) von Huerrich, C, Roth, S, Poetschke, M, Rellinghaus, B, Schultz, L

Volltext

Polycrystalline Ni-Mn-Ga as a Potential Material for Magnetically Driven Actuators von Hürrich, Claudia, Böhm, Andrea, Gaitzsch, Uwe, Pötschke, Martin, Roth, Stefan, Schultz, Ludwig

Volltext

Analysis of Variant Orientation Before and After Compression in Polycrystalline Ni50Mn29Ga21 MSMA von Hürrich, C., Wendrock, H., Pötschke, M., Gaitzsch, U., Roth, S., Rellinghaus, B., Schultz, L.

Volltext

Analysis of Variant Orientation Before and After Compression in Polycrystalline Ni sub(50)Mn sub(29)Ga sub( 21) MSMA von Huerrich, C, Wendrock, H, Poetschke, M, Gaitzsch, U, Roth, S, Rellinghaus, B, Schultz, L

Volltext

Exchange bias features in FeNi/FeMn/Gd-Co films von Svalov, A.V., Adanakova, O.A., Gorkovenko, A.N., Lepalovskij, V.N., Stepanova, E.A., Selezneva, N.V., Vas’kovskiy, V.O.

Volltext

Exchange bias in FeNi/FeMn/Gd–Co trilayers: The role of the magnetic prehistory von Svalov, A.V., Kudyukov, E.V., Lepalovskij, V.N., Gorkovenko, A.N., Stepanova, E.A., Larrañaga, A., Kurlyandskaya, G.V., Vaśkovskiy, V.O.

Volltext

Exchange bias in FeNi/FeMn/FeNi multilayers von Svalov, A.V., Kurlyandskaya, G.V., Lepalovskij, V.N., Savin, P.A., Vas’kovskiy, V.O.

Volltext

Effect of coplanar probe pad design on noise figures of 0.35 µm MOSFETs von Su, C Y, Chen, L P, Chang, S J, Huang, G W, Ho, Y P, Tseng, B M, Lin, D C, Lee, H Y, Kuan, J F, Deng, Y M, Chen, C L, Leu, L Y, Wen, K A, Chang, C Y

Volltext