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Bottom-Up Nano-heteroepitaxy of Wafer-Scale Semipolar GaN on (001) Si
Veröffentlicht in Advanced materials (Weinheim)
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Quantifying the data quality of focal series for inline electron holography
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
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Multi-focus TIE algorithm including partial spatial coherence and overlapping filters
Veröffentlicht in Optics express
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Raman shifts in MBE‐grown SixGe1 − x − ySny alloys with large Si content
Veröffentlicht in Journal of Raman spectroscopy
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