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A novel poly-Si thin-film transistor with multi-trenched body by using Isotropic-etching for Suppressing Off-State Leakage
von
Hsien-Nan Chiu
,
Jyi-Tsong Lin
,
Yi-Chuen Eng
,
Po-Hiesh Lin
,
Tzu-Feng Chang
,
Chih-Hung Sun
,
Chih-Hao Kuo
,
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Future of planar self-aligned block oxide based MOSFET technology
von
Jyi-Tsong Lin
,
Yi-Chuen Eng
,
Chih-Hao Kuo
,
Tzu-Feng Chang
,
Chih-Hung Sun
,
Po-Hsieh Lin
,
Hsien-Nan Chiu
,
Hsuan-Hsu Chen
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A simple process of thin-film transistor using the trench-oxide layer for improving 1T-DRAM performance
von
Hsien-Nan Chiu
,
Jyi-Tsong Lin
,
Yi-Chuen Eng
,
Tzu-Feng Chang
,
Cheng-Hsin Chen
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A novel vertical MOSFET with bMPI structure for 1T-DRAM application
von
Cheng-Hsin Chen
,
Jyi-Tsong Lin
,
Yi-Chuen Eng
,
Po-Hsieh Lin
,
Hsien-Nan Chiu
,
Tzu-Feng Chang
,
Chih-Hsuan Tai
,
Kuan-Yu Lu
,
Yi-Hsuan Fan
,
Yu-Che Chang
,
Hsuan-Hsu Chen
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Numerical study of non-classical unipolar CMOS with different embedded oxide and gate length
von
Chih-Hung Sun
,
Jyi-Tsong Lin
,
Hsuan-Hsu Chen
,
Yi-Chuen Eng
,
Chih-Hao Kuo
,
Tze-Feng Chang
,
Chun-Yu Chen
,
Po-Hsieh Lin
,
Hsien-Nan Chiu
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Characteristics of a new trench-oxide thin-film transistor and its 1T-DRAM applications
von
Hsien-Nan Chiu
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Jyi-Tsong Lin
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Yi-Chuen Eng
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Tzu-Feng Chang
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Chih-Hung Sun
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Po-Hiesh Lin
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Chih-Hao Kuo
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Hsuan-Hsu Chen
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Cheng-Hsin Chen
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Reliability analysis of a new vertical MOSFET with bMPI structure for 1T-DRAM applications
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Jyi-Tsong Lin
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Po-Hsieh Lin
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Yi-Chuen Eng
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Thermal characteristics of an advanced bMPI-based 1T-DRAM cell
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Jyi-Tsong Lin
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Yi-Chuen Eng
,
Hsien-Nan Chiu
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Tzu-Feng Chang
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Yi-Hsuan Fan
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Yu-Che Chang
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Chih-Hsuan Tai
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Advanced block oxide MOSFETs for 25 nm technology node
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Chih-Hung Sun
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Jyi-Tsong Lin
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Yi-Chuen Eng
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Tzu-Feng Chang
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Hsuan-Hsu Chen
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Chih-Hao Kuo
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Hsien-Nan Chiu
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Improving reliability and diminishing parasitic capacitance effects in a vertical transistor with embedded gate
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Jyi-Tsong Lin
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Chih-Hao Kuo
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Tai-Yi Lee
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Yi-Chuen Eng
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Tzu-Feng Chang
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Po-Hsieh Lin
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Hsien-Nan Chiu
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A novel self-align double gate MOSFET with source/drain tie
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Yi-Chuen Eng
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Nai-Chuan Chuang
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Characteristics of a Local Oxidation of silicon multi-tie body polysilicon thin-film transistor
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The impact of junction depth on vertical sidewall MOSFETs with embedded gate
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Tai-Yi Lee
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A simulation study of source/drain-tie effects on characteristics of self-aligned π-shaped source/drain ultrathin SOI FETs
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Self-aligned SOI MOSFETs with Ω-shaped conductive layer and source/drain-tie
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