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    Kramers-Krönig Analysis of a-Si/SiNx Interface Structure

    Kramers-Krönig Analysis of a-Si/SiNx Interface Structure von Houjou, Hirohiko, Otsuka, Yuji, Tanii, Yoshiharu, Hinoshita, Chiaki, Horii, Seiichirou, Murata, Yukio

    Veröffentlicht in Journal of electron microscopy

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