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    Special Panel Session

    Special Panel Session von Hopsch, F, Wunderlich, H.-J, Polian, I, Becker, B, Hellebrand, S


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    Developing digital test sequences for through-silicon vias within 3D structures

    Developing digital test sequences for through-silicon vias within 3D structures von Gulbins, M, Hopsch, F, Schneider, P, Straube, B, Vermeiren, W

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    Characterization of digital cells for statistical test

    Characterization of digital cells for statistical test von Hopsch, F, Lindig, M, Straube, B, Vermeiren, W

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    Characterization of digital cells for statistical test

    Characterization of digital cells for statistical test von Hopsch, F, Lindig, M, Straube, B, Vermeiren, W

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    Developing digital test sequences for through-silicon vias within 3D structures

    Developing digital test sequences for through-silicon vias within 3D structures von Gulbins, M, Hopsch, F, Schneider, P, Straube, B, Vermeiren, W

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    Variation-aware fault modeling

    Variation-aware fault modeling von Hopsch, F, Becker, B, Hellebrand, S, Polian, I, Straube, B, Vermeiren, W, Wunderlich, H.-J

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  7. 7
    Variation-aware fault modeling

    Variation-aware fault modeling von Hopsch, F, Becker, B, Hellebrand, S, Polian, I, Straube, B, Vermeiren, W, Wunderlich, H.-J

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  8. 8
    Ermitteln der Häufigkeitsverteilungen von Verzögerungszeiten digitaler Grundgatter infolge von Parameterschwankungen

    Ermitteln der Häufigkeitsverteilungen von Verzögerungszeiten digitaler Grundgatter infolge von Parameterschwankungen von Hopsch, F, Straube, B, Vermeiren, W

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  9. 9
    Elektrische Fehlersimulation digitaler Grundgatter unter Parameterschwankungen: Methodik und erste Ergebnisse

    Elektrische Fehlersimulation digitaler Grundgatter unter Parameterschwankungen: Methodik und erste Ergebnisse von Hopsch, F, Straube, B, Vermeiren, W, Lindig, M, Haase, J

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