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Image guidance protocols: balancing imaging parameters against scan time
Veröffentlicht in British journal of radiology
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Electron beam lithography—Resolution limits
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Characterization of electron beam induced modification of thermally grown SiO2
Veröffentlicht in Applied physics letters
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Electron beam lithography : Resolution limits: Nanotechnology
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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A novel technique for the fabrication of sub-20nm metallic wires
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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Microfabrication of Freestanding Microstructures
Veröffentlicht in Microelectronic engineering
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