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Device scaling limits of Si MOSFETs and their application dependencies
Veröffentlicht in Proceedings of the IEEE
VolltextArtikel -
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Technology and device scaling considerations for CMOS imagers
Veröffentlicht in IEEE transactions on electron devices
VolltextArtikel -
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Discrete random dopant distribution effects in nanometer-scale MOSFETs
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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