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    Kodak CCD-based detector for small angle X-ray scattering

    Kodak CCD-based detector for small angle X-ray scattering von Hok-ling Lee, Madden, T., Fernandez, P., Byeongdu Lee, Seifert, S., Weizeorick, J., Molitsky, M.


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    Tagungsbericht

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    Temperature-Frequency Scaling in Amorphous Niobium-Silicon near the Metal-Insulator Transition

    Temperature-Frequency Scaling in Amorphous Niobium-Silicon near the Metal-Insulator Transition von Lee, Hok-Ling, Carini, John P., Baxter, David V., Grüner, George

    Veröffentlicht in Physical review letters

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    Temperature-frequency scaling in amorphous niobium-silicon near the metal-insulator transition

    Temperature-frequency scaling in amorphous niobium-silicon near the metal-insulator transition von Lee, Hok-Ling, Carini, John P, Baxter, David V, Gruner, George

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    Temperature-frequency scaling in amorphous niobium-silicon near the metal-insulator transition

    Temperature-frequency scaling in amorphous niobium-silicon near the metal-insulator transition von Hok-Ling, Lee, Carini, John P, Baxter, David V, Gruner, George

    Veröffentlicht in arXiv.org

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