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A CMOS Ultra-Wideband Receiver for Low Data-Rate Communication
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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Significance of the failure criterion on transmission line pulse testing
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Plasma Charging Damage in HK-First and HK-Last RMG NMOS Devices
Veröffentlicht in IEEE transactions on device and materials reliability
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