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    Design and Performance of a Custom ASIC Digitizer for Wire Chamber Readout in 65 nm CMOS Technology

    Design and Performance of a Custom ASIC Digitizer for Wire Chamber Readout in 65 nm CMOS Technology von Lee, MyeongJae, Brown, David N, Chang, Jessica K, Ding, Dawei, Gnani, Dario, Grace, Carl R, Jones, John A, Kolomensky, Yury G, Henrik von der Lippe, Mcvittie, Patrick J, Stettler, Matthew W, Walder, Jean-Pierre

    Veröffentlicht in arXiv.org

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  2. 2
    A High-Speed Adaptively-Biased Current-to-Current Front-End for SSPM Arrays

    A High-Speed Adaptively-Biased Current-to-Current Front-End for SSPM Arrays von Zheng, Bob, Walder, Jean-Pierre, Lippe, Henrik vonder, Moses, William, Janecek, Martin


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  3. 3
    Code-density calibration of Nyquist-rate analog-to-digital converters

    Code-density calibration of Nyquist-rate analog-to-digital converters von Grace, Carl R., Denes, Peter, Gnani, Dario, von der Lippe, Henrik, Walder, Jean-Pierre


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  4. 4
    Multiplexed oversampling digitizer in 65 nm CMOS for column-parallel CCD readout

    Multiplexed oversampling digitizer in 65 nm CMOS for column-parallel CCD readout von Grace, C. R., Walder, J-P, von der Lippe, H.


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  5. 5
    Repräsentativität von Stichproben

    Repräsentativität von Stichproben von von der Lippe, Peter, Kladroba, Andreas

    Veröffentlicht in Marketing (London)

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