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Suchergebnisse - Henri Albarede, Paul
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1
Reverse short and narrow channel effects in n and p transistors: quantification of the enhanced diffusion and the gate oxide thickness increase
von
Leroy, Bernard
,
Henri Albarede, Paul
,
Martin, Patrick
Veröffentlicht in
Journal of non-crystalline solids
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Strain investigation around shallow trench isolations : a LACBED Study
von
Albarède, Paul-Henri
,
Lavagne, S.
,
Grosjean, C.
Veröffentlicht in
Microelectronics and reliability
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Retention test system and method for resistively switching memory devices
von
ALBAREDE PAUL-HENRI
,
SYMANCZYK RALF
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Retention test system and method for resistively switching memory devices
von
Symanczyk, Ralf
,
Albarede, Paul-Henri
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5
Data holding test executing system for resistive switching memory device i.e. conductive bridging RAM memory device, has applies bias voltage to conductive bridging RAM memory cell...
von
SYMANCZYK, RALF
,
ALBAREDE, PAUL-HENRI
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Patent
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6
RETENTION TEST SYSTEM AND METHOD FOR RESISTIVELY SWITCHING MEMORY DEVICES
von
ALBAREDE PAUL-HENRI
,
SYMANCZYK RALF
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Patent
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Conductive Bridging Memory Development from Single Cells to 2Mbit Memory Arrays
von
Symanczyk, R.
,
Dittrich, R.
,
Keller, J.
,
Kund, M.
,
Muller, G.
,
Ruf, B.
,
Albarede, P.-H.
,
Bournat, S.
,
Bouteille, L.
,
Duch, A.
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Ieee Electronic Library (Iel)
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