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Large-signal 2T, 1C DRAM cell: signal and layout analysis
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Penetration depth measurements on type II superconducting films
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A new failure mode of radiation-induced soft errors in dynamic memories
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A 12-ns low-temperature DRAM
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A 22-ns 1-Mbit CMOS high-speed DRAM with address multiplexing
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Intrinsic Fluctuations in the Driven Josephson Oscillator
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Experimental single flux quantum NDRO Josephson memory cell
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Thermoelectric Power and Mobility of Carriers in Selenium
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