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Oxide Impurities in Silicon Oxide Intermetal Dielectrics and Their Potential to Elevate Via-Resistances von Qin, Wentao, Alldredge, Donavan, Heleotes, Douglas, Elkind, Alexander, Theodore, N. David, Fejes, Peter, Vadipour, Mostafa, Godek, Bill, Lerner, Norman
Veröffentlicht in Microscopy and microanalysis
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