Double Stars von Heintz, W.D

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Compendium of Practical Astronomy: Volume 1: Instrumentation and Reduction Techniques von Roth, Gunter D, Augensen, H.J, Heintz, W.D

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Compendium of Practical Astronomy, Volume 1: Instrumentation and Reduction Techniques von Roth, Günter D, Augensen, H. J, Heintz, W.D

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Double Stars von McCormac, B. M, Heintz, Wulff D

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Astrometry and Spectroscopy as Tools Toward Visual-Binary Masses von Heintz, W.D.

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Über mittlere Parallaxen und ihre Abhängigkeit von Helligkeit und galaktischen Koordinaten von Heintz, W.D.

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Astrometric study of four visual binaries von Heintz, W. D.

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Revised elements of eight visual binaries von Heintz, W. D.

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Parallax and motions of the Capella system von Heintz, W. D.

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Orbit and flare activity of the M4 binary KPR 41 von Heintz, W. D.

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Über Breitenänderungen der dunklen Jupiterstreifen von Schoenberg, E., Heintz, W.D.

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Micrometer Observations of (433) Eros von Heintz, W. D.

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2.2. The Kepler quadricentenial in Philadelphia von Heintz, W.D.

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THE TRIPLE STAR A 1813 von HEINTZ, W. D.

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Über mittlere Parallaxen und ihre Abhängigkeit von Helligkeit und galaktischen Koordinaten von Heintz, W.D.

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Commission 5. Documentation and Astronomical Data von Heintz, W.D., Wilkins, G. A., Hauck, B., Kleczek, J., Lantos, P., Mitton, S., Pecker, J.-C., Schmadel, L., Shcherbina-Samojlova, I.

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Über Breitenänderungen der dunklen Jupiterstreifen von Schoenberg, E., Heintz, W.D.

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Modeling of surface damage at the Si/SiO2-interface of irradiated MOS-capacitors von Akchurin, N., Altopp, G., Burkle, B., Frey, W.D., Heintz, U., Hinton, N., Hoeferkamp, M., Kazhykarim, Y., Kuryatkov, V., Mengke, T., Peltola, T., Seidel, S., Spencer, E., Tripathi, M., Voelker, J.

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Charge collection and electrical characterization of neutron irradiated silicon pad detectors for the CMS High Granularity Calorimeter von Akchurin, N., Almeida, P., Altopp, G., Alyari, M., Bergauer, T., Brondolin, E., Burkle, B., Frey, W.D., Gecse, Z., Heintz, U., Hinton, N., Kuryatkov, V., Lipton, R., Mannelli, M., Mengke, T., Paulitsch, P., Peltola, T., Pitters, F., Sicking, E., Spencer, E., Tripathi, M., Pinto, M.V. Barreto, Voelker, J., Wang, Z., Yohay, R.

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Modeling of surface damage at the Si/SiO 2 -interface of irradiated MOS-capacitors von Akchurin, N., Altopp, G., Burkle, B., Frey, W.D., Heintz, U., Hinton, N., Hoeferkamp, M., Kazhykarim, Y., Kuryatkov, V., Mengke, T., Peltola, T., Seidel, S., Spencer, E., Tripathi, M., Voelker, J.

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