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Quantitative electron probe microanalysis of ultralight elements (boron-oxygen)
Veröffentlicht in Scanning
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A systematic database of thin-film measurements by EPMA Part II-Palladium films
Veröffentlicht in X-ray spectrometry
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Extension of PROZA96 to conditions of non-perpendicular incidence of the electron beam
Veröffentlicht in X-ray spectrometry
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Quantitative Electron Probe Microanalysis of Boron
Veröffentlicht in Journal of solid state chemistry
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