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A Mixed-Signal RISC-V Signal Analysis SoC Generator With a 16-nm FinFET Instance von Bailey, Steven, Rigge, Paul, Han, Jaeduk, Lin, Richard, Chang, Eric Y., Mao, Howard, Wang, Zhongkai, Markley, Chick, Izraelevitz, Adam M., Wang, Angie, Narevsky, Nathan, Bae, Woorham, Shauck, Steve, Montano, Sergio, Norsworthy, Justin, Razzaque, Munir, Ma, Wen Hau, Lentiro, Akalu, Doerflein, Matthew, Heckendorn, Darin, McGrath, Jim, DeSeta, Franco, Shoham, Ronen, Stellfox, Mike, Snowden, Mark, Cole, Joseph, Fuhrman, Daniel R., Richards, Brian, Bachrach, Jonathan, Alon, Elad, Nikolic, Borivoje
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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