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Tuning Material Properties of Oxides and Nitrides by Substrate Biasing during Plasma-Enhanced Atomic Layer Deposition on Planar and 3D Substrate Topographies
von
Faraz, T
,
Knoops, H.C.M
,
Verheijen, M.A
,
Helvoirt, C.A.A. van
,
Karwal, S
,
Sharma, A
,
Beladiya, V
,
Szeghalmi, A
,
Hausmann, D.M
,
Henri, J
,
Creatore, M
,
Kessels, W.M.M
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