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Rapid characterization and modeling of pattern-dependent variation in chemical-mechanical polishing
von
Stine, B.E.
,
Ouma, D.O.
,
Divecha, R.R.
,
Boning, D.S.
,
Chung, J.E.
,
Hetherington, D.L.
,
Harwoo, C.R.
,
Nakagawa, O.S.
,
Soo-Young Oh
Veröffentlicht in
IEEE transactions on semiconductor manufacturing
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