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Suchergebnisse - Hans-Peter Van Der Kleij
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TEXS: in‐vacuum tender X‐ray emission spectrometer with 11 Johansson crystal analyzers
von
Rovezzi, Mauro
,
Harris, Alistair
,
Detlefs, Blanka
,
Bohdan, Timothy
,
Svyazhin, Artem
,
Santambrogio, Alessandro
,
Degler, David
,
Baran, Rafal
,
Reynier, Benjamin
,
Noguera Crespo, Pedro
,
Heyman, Catherine
,
Van Der Kleij, Hans-Peter
,
Van Vaerenbergh, Pierre
,
Marion, Philippe
,
Vitoux, Hugo
,
Lapras, Christophe
,
Verbeni, Roberto
,
Kocsis, Menhard Menyhert
,
Manceau, Alain
,
Glatzel, Pieter
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Journal of synchrotron radiation
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Rovezzi, Mauro
,
Harris, Alistair
,
Detlefs, Blanka
,
Bohdan, Timothy
,
Sviazhin, Artem
,
Santambrogio, Alessandro
,
Degler, David
,
Baran, Rafal
,
Reynier, Benjamin
,
Crespo, Pedro Noguera
,
Heyman, Catherine
,
van Der Kleij, Hans-Peter
,
van Vaerenbergh, Pierre
,
Marion, Philippe
,
Vitoux, Hugo
,
Lapras, Christophe
,
Verbeni, Roberto
,
Kocsis, Menhard Menyhert
,
Manceau, Alain
,
Glatzel, Pieter
,
Svyazhin, Artem
,
Noguera Crespo, Pedro
,
Kocsis, Menhard Menyhert
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Journal of synchrotron radiation
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,
Harris, Alistair
,
Detlefs, Blanka
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Bohdan, Timothy
,
Svyazhin, Artem
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Santambrogio, Alessandro
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Degler, David
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Baran, Rafal
,
Reynier, Benjamin
,
Pedro Noguera Crespo
,
Heyman, Catherine
,
Hans-Peter Van Der Kleij
,
Pierre Van Vaerenbergh
,
Marion, Philippe
,
Vitoux, Hugo
,
Lapras, Christophe
,
Verbeni, Roberto
,
Kocsis, Menhard Menyhert
,
Manceau, Alain
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Glatzel, Pieter
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