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Modeling and fuzzy control of a 1,2-dichloroethane thermal cracking furnace
Veröffentlicht in AIP conference proceedings
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On the Production Testing of Memristor Ratioed Logic (MRL) Gates
Veröffentlicht in Circuits and systems (Irvine, Calif.)
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Effect of Uncertainty in Failure Rates on Memory System Reliability
Veröffentlicht in IEEE transactions on reliability
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