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1
Analysis of Single-Event Transients in Integer- N Frequency Dividers and Hardness Assurance Implications for Phase-Locked Loops
von
Loveless, T.D.
,
Olson, B.D.
,
Bhuva, B.L.
,
Holman, W.T.
,
Hafer, C.C.
,
Massengill, L.W.
Veröffentlicht in
IEEE transactions on nuclear science
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2
Single-event effect radiation test results of radiation-hardened IEEE1394 Firewire ASICs [space applications]
von
Pritchard, B.E.
,
Underwood, J.B.
,
Murlin, W.D.
,
Coleman, A.M.
,
Wolfram, K.D.
,
Warner, J.B.
,
Hafer, C.C.
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Ionizing radiation response of an amorphous silicon based antifuse
von
Benedetto, J.M.
,
Hafer, C.C.
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Grooming Your Marketing Students to Match the Employer's Ideal Job Candidate
von
Hafer, J.C.
,
Hoth, C.C.
Veröffentlicht in
Journal of marketing education
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