Papers presented at the 1999 E-MRS Spring Conference, Symposium P: Optical Characterization of Semiconductor Layers and Surfaces, Strasbourg, France, June 1-4, 1999 von HUNDERI, Ola D, ZETTLER, J.-Thomas, DEL SOLE, Rodolfo

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Partial Disorder in Evaporated Aluminum Films von Hunderi, Ola D

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Partial disorder in evaporated aluminium films von Hunderi, Ola D.

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Investigation of Variable Incidence Angle Spectroscopic Ellipsometry for Determination of Below Band Gap Uniaxial Dielectric Function von Kildemo, Morten, Hunderi, Ola

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Arrangement for measuring polarisation dependent optical parameters of rotating specimens von HABERLAND, KOLJA, 13403 BERLIN, DE, HUNDERI, OLA, .., TRONDHEIM, NO, ZETTLER, JOERG-THOMAS. DR., 13187 BERLIN, DE

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Anordnung zur Messung von polarisationsabhängigen optischen Parametern rotierender Proben mittels optischer Reflexion von HABERLAND, KOLJA, 13403 BERLIN, DE, HUNDERI, OLA, .., TRONDHEIM, NO, ZETTLER, JOERG-THOMAS. DR., 13187 BERLIN, DE

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