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Diagnostic Validity Statistics and the MCMI-III
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Biases of Success Rate Differences Shown in Binomial Effect Size Displays
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Obituary: Professor Arthur Yau
Veröffentlicht in Journal of orthopaedics, trauma and rehabilitation
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Some Properties of r equivalent: A Simple Effect Size Indicator
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SRAM bitline circuits on PD SOI: advantages and concerns
Veröffentlicht in IEEE journal of solid-state circuits
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