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Entropy-Driven Grain Boundary Segregation: Prediction of the Phenomenon
Veröffentlicht in Metals (Basel )
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Characterization of nanolayers by sputter depth profiling
Veröffentlicht in Applied surface science
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Applied Thermodynamics: Grain Boundary Segregation
Veröffentlicht in Entropy (Basel, Switzerland)
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Modeling grain boundary segregation by prediction of all the necessary parameters
Veröffentlicht in Acta materialia
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Advances in sputter depth profiling using AES
Veröffentlicht in Surface and interface analysis
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Electron Backscattering in Sputter Depth Profiling Using AES, EPES, and REELS
Veröffentlicht in Journal of Surface Analysis
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The Significance of Entropy in Grain Boundary Segregation
Veröffentlicht in Materials
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