-
1
-
2
-
3
-
4
-
5
-
6
-
7
-
8
-
9
Impact of Embedding Schottky Barrier Diodes into 3.3 kV and 6.5 kV SiC MOSFETs
Veröffentlicht in Materials science forum
VolltextArtikel -
10
-
11
-
12
-
13
-
14
Investigation of the Robust Edge Termination Applied to 6.5kV SiC MOSFET
Veröffentlicht in Materials science forum
VolltextArtikel -
15
-
16
Depletion-Mode TDDB for n-Type MOS Capacitors of 4H-SiC
Veröffentlicht in Materials science forum
VolltextArtikel -
17
-
18
-
19
-
20