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$Raman Scattering Characterization of Polytype in Silicon Carbide Ceramics: Comparison with X-ray Diffraction$

Raman Scattering Characterization of Polytype in Silicon Carbide Ceramics: Comparison with X-ray Diffraction von Nakashima, Shin-ichi, Higashihira, Makoto, Maeda, Kouji, Tanaka, Hidehiko

Veröffentlicht in Journal of the American Ceramic Society

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Semiconductor device having super junction structure with varying width von Orita, Toshiyuki, Kobe, Toshifumi, Yamanobe, Tomomi, Kondou, Kiyofumi, Higashihira, Makoto, Kaji, Takao, Doi, Yuuki, Tsujimoto, Masao

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SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF FABRICATING SEMICONDUCTOR DEVICE von ORITA, TOSHIYUKI, KONDO, KIYOFUMI, ISHIKIRIYAMA, MAMORU, KOBE, TOSHIFUMI, INOUE, TAKUMI, YAMAMOTO, YUZO, HIGASHIHIRA, MAKOTO, KODAMA, KAZUTAKA

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SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE von Orita, Toshiyuki, Kobe, Toshifumi, Yamanobe, Tomomi, Kondou, Kiyofumi, Higashihira, Makoto, Kaji, Takao, Doi, Yuuki, Tsujimoto, Masao

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5

SEMICONDUCTOR DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE von DOI YUUKI, ORITA TOSHIYUKI, HIGASHIHIRA MAKOTO, KOBE TOSHIFUMI, KAJI TAKAO, KONDOU KIYOFUMI, TSUJIMOTO MASAO, YAMANOBE TOMOMI

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