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Failure Rate Prediction and Accelerated Detection of Anomalous Charge Loss in Flash Memories by Using an Analytical Transient Physics-Based Charge Loss Model
von
Schuler, Franz
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Tempel, Georg
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Melzner, Hanno
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Jacob, Michael
,
Hendrickx, Paul
,
Wellekens, Dirk
,
Van Houdt, Jan
Veröffentlicht in
Japanese Journal of Applied Physics
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Esp@Cenet
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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Institute Of Physics Iopscience Extra
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