Photonic Side-Channel Analysis of Arbiter PUFs von Tajik, Shahin, Dietz, Enrico, Frohmann, Sven, Dittrich, Helmar, Nedospasov, Dmitry, Helfmeier, Clemens, Seifert, Jean-Pierre, Boit, Christian, Hübers, Heinz-Wilhelm

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Physical Characterization of Arbiter PUFs von Tajik, Shahin, Dietz, Enrico, Frohmann, Sven, Seifert, Jean-Pierre, Nedospasov, Dmitry, Helfmeier, Clemens, Boit, Christian, Dittrich, Helmar

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Focused ion beam contact to non-volatile memory cells von Helfmeier, Clemens, Schlangen, Rudolf, Boit, Christian

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Ultra sensitive measurement of dielectric current under pulsed stress conditions von Helfmeier, Clemens, Beyreuther, Anne, Fox, Alexander, Boit, Christian

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Cloning Physically Unclonable Functions von Helfmeier, Clemens, Boit, Christian, Nedospasov, Dmitry, Seifert, Jean-Pierre

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Charge measuring device with integrated FET, capacitor, and charge accumulation device von Kerst, Uwe, Boit, Christian, Helfmeier, Clemens

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Ultra high precision circuit diagnosis through seebeck generation and charge monitoring von Boit, Christian, Helfmeier, Clemens, Nedospasov, Dmitry, Fox, Alexander

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On charge sensors for FIB attack detection von Helfmeier, Clemens, Boit, C., Kerst, U.

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CHARGE MEASURING DEVICE von KERST UWE, BOIT CHRISTIAN, HELFMEIER CLEMENS

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Charge sensing : a key to improving sensitivity in integrated circuit analysis von Helfmeier, Clemens, Helfmeier, Clement

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Ladungsmesseinrichtung von HELFMEIER, CLEMENS, BOIT, CHRISTIAN, KERST, UWE

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CHARGE MEASURING DEVICE von HELFMEIER, CLEMENS, BOIT, CHRISTIAN, KERST, UWE

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