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High-speed Mueller matrix ellipsometer with microsecond temporal resolution
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Mueller matrix imaging ellipsometry for nanostructure metrology
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Layer‐Dependent Dielectric Function of Wafer‐Scale 2D MoS2
Veröffentlicht in Advanced optical materials
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Wide field-of-view angle linear retarder with an ultra-flat retardance response
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Simulation method for study on outcoupling characteristics of stratified anisotropic OLEDs
Veröffentlicht in Optics express
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