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Active defects in MOS devices on 4H-SiC: A critical review
Veröffentlicht in Microelectronics and reliability
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Experimental Investigation of Piezoresistive Effect in p-Type 4H-SiC
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Growth of 3C–SiC on 150-mm Si(100) substrates by alternating supply epitaxy at 1000 °C
Veröffentlicht in Thin solid films
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Mechanism of Threshold Voltage Shift in -GaN Gate AlGaN/GaN Transistors
Veröffentlicht in IEEE electron device letters
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Fabrication of Ohmic Contact on N-Type SiC by Laser Annealed Process: A Review
Veröffentlicht in Crystals (Basel)
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