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Determination of interface states and their time constant for Au/SnO_2 /n-Si (MOS) capacitors using admittance measurements
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H. M. Baran A. Tataroglu
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Determination of interface states and their time constant for Au/SnO sub(2)/n-Si (MOS) capacitors using admittance measurements
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,
Tataroglu, A
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Determination of interface states and their time constant for Au/SnO 2 /n-Si (MOS) capacitors using admittance measurements
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Baran, H. M.
,
Tataroğlu, A.
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Institute Of Physics (Iop) Journals - Heal-Link
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