-
1
-
2
Quantitative measurement of displacement and strain fields from HREM micrographs
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
VolltextArtikel -
3
Dynamical effects in strain measurements by dark-field electron holography
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
VolltextArtikel -
4
-
5
-
6
-
7
-
8
Tests on the validity of the atomic column approximation for STEM probe propagation
Veröffentlicht in Ultramicroscopy
VolltextArtikel -
9
-
10
-
11
-
12
-
13
-
14
Quantitative analysis of strain field in thin films from HRTEM micrographs
Veröffentlicht in Thin solid films
VolltextArtikel -
15
-
16
-
17
-
18
-
19
-
20