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    Electron beam transverse phase space tomography using nanofabricated wire scanners with submicrometer resolution

    Electron beam transverse phase space tomography using nanofabricated wire scanners with submicrometer resolution von Hermann, Benedikt, Guzenko, Vitaliy A., Hürzeler, Orell R., Kirchner, Adrian, Orlandi, Gian Luca, Prat, Eduard, Ischebeck, Rasmus


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    Characterization of the Electron Beam in the ACHIP Chamber in SwissFEL

    Characterization of the Electron Beam in the ACHIP Chamber in SwissFEL von Ischebeck, Rasmus, Bettoni, Simona, Borrelli, Simona, Calvi, Marco, Dijkstal, Philipp, Ferrari, Eugenio, Guzenko, Vitaliy, Hauenstein, Dominique, Hermann, Benedikt, Hürzeler, Orell, Kittel, Christoph, Lombosi, Csaba, Orlandi, Gian Luca, Prat, Eduard, Reiche, Sven, Rivkin, Leonid, Voulot, Didier, Zehnder, Dominique


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    Electron beam transverse phase space tomography using nanofabricated wire scanners with submicrometer resolution

    Electron beam transverse phase space tomography using nanofabricated wire scanners with submicrometer resolution von Hermann, Benedikt, Guzenko, Vitaliy A, Hürzeler, Orell R, Kirchner, Adrian, Orlandi, Gian Luca, Prat, Eduard, Ischebeck, Rasmus

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