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    Treatment of roughness and concentration gradients in total Reflection X-ray fluorescence analysis of surfaces

    Treatment of roughness and concentration gradients in total Reflection X-ray fluorescence analysis of surfaces von Schwenke, H., Gutschke, R., Knoth, J., Kock, M.


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    Examination of layered structures by total-reflection X-ray fluorescence analysis

    Examination of layered structures by total-reflection X-ray fluorescence analysis von Knoth, J., Bormann, R., Gutschke, R., Michaelsen, C., Schwenke, H.


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    X-ray induced fluorescence spectrometry at grazing incidence for quantitative surface and layer analysis

    X-ray induced fluorescence spectrometry at grazing incidence for quantitative surface and layer analysis von WEISBROD, U, GUTSCHKE, R, KNOTH, J, SCHWENKE, H


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    Total reflection X-ray fluorescence spectrometry for quantitative surface and layer analysis

    Total reflection X-ray fluorescence spectrometry for quantitative surface and layer analysis von Weisbrod, U., Gutschke, R., Knoth, J., Schwenke, H.


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    Examination of Layered Structures by Total-Reflection X-Ray Fluorescence

    Examination of Layered Structures by Total-Reflection X-Ray Fluorescence von Knoth, J, Bormann, R, Gutschke, R, Michaelsen, C, Schwenke, H


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