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Test‐Generation‐Based Fault Detection in Analog VLSI Circuits Using Neural Networks
Veröffentlicht in ETRI journal
VolltextArtikel -
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NCM-Based Raga Classification Using Musical Features
Veröffentlicht in International journal of fuzzy systems
VolltextArtikel -
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Fault Classification in Phase‐Locked Loops Using Back Propagation Neural Networks
Veröffentlicht in ETRI journal
VolltextArtikel -
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Test-Generation-Based Fault Detection in Analog VLSI Circuits Using Neural Networks
Veröffentlicht in ETRI journal
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Fault Classification in Phase-Locked Loops Using Back Propagation Neural Networks
Veröffentlicht in ETRI journal
VolltextArtikel -
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